賽默飛Apreo掃描電鏡隔振方案-ARISMD主動(dòng)隔振系統(tǒng)
賽默飛Apreo S掃描電鏡主動(dòng)隔振系統(tǒng)
ArisMD300主動(dòng)隔振系統(tǒng)
ARISMD主動(dòng)隔振系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于賽默飛電鏡，ThermoFisfer賽默飛球差矯正透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛掃描電鏡、ThermoFisfer賽默飛聚焦離子束FIB.....
精密振動(dòng)控制助力賽默飛電鏡實(shí)現(xiàn)最精密測(cè)試、實(shí)現(xiàn)納米級(jí)成像
背 ? ? ? 景：應(yīng)用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡成像檢測(cè)，是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)。
使用單位：廈門稀土材料研究所
地 ? ? ?點(diǎn)：福建省廈門市集美區(qū)兌山西珩路258號(hào)
儀器型號(hào)：FEI Apreo S LoVac
隔振方案：ArisMD300主動(dòng)隔振系統(tǒng)
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| FEI Apreo S LoVac場發(fā)射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動(dòng)隔振系統(tǒng)應(yīng)用安裝圖 | |
成像測(cè)試：
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Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對(duì)比（安裝ArisMD300前后） | |
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